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Los microscopios ópticos suelen utilizar sistemas de lentes refractivas de cristal para examinar las muestras con gran magnificación. A diferencia de las cámaras de infrarrojos MWIR y LWIR, las cámaras SWIR pueden operar con ópticas de cristal estándar y no requieren el uso de ópticas reflectantes. En consecuencia, las cámaras SWIR pueden utilizarse con la mayoría de microscopios existentes. Las lámparas de Tungsteno que incorporan, además, constituyen una buena fuente de fotones SWIR.

Algunas de las principales aplicaciones de la microscopía SWIR son:

  • Inspección de obleas de Silicio. La microscopía SWIR resulta útil tanto en la verificación de los procesos como en las operaciones finales de verificación de las características de los materiales.
  • Inspección de células solares gracias al fenómeno de electroluminiscencia que se produce en éstas cuando hay circulación de cargas. Los fotones emitidos ayudan a visualizar fracturas y la distribución de cargas que determina la calidad del material. Las cámaras SWIR mejoran en un orden de magnitud la captura del flujo de fotones con respecto a los sensores CCD de Silicio convencionales.
  • Emisión de fotón. Este tipo de microscopios ayudan en la detección de emisiones débiles debidas a anomalías en los semiconductores. Proporcionan una elevada capacidad de detección en circuitos integrados.

Circuitos integrados fotónicos. Las redes de comunicaciones de fibra óptica utilizan láseres SWIR entre 1300 y 1500nm, por lo que las cámaras SWIR resultan ideales para visualización de estas señales. Los microscopios SWIR ayudan en la verificación del diseño óptico y en la inspección de desalineaciones y dispersiones de la luz en circuitos integrados.