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Os microscópios óticos normalmente utilizam sistemas de lentes refrativas de cristal para examinar as amostras com grande ampliação. A diferença das câmaras de infravermelho MWIR e LWIR, as câmaras SWIR podem operar com óticas de cristal standard e não requerem o uso de óticas refletivas. Em consequência, as câmaras SWIR podem ser utilizadas com a maioria de microscópios existentes. Além do mais as lâmpadas de tungsténio que incorporam constituem em uma boa fonte de fotões SWIR.

Algumas das principais aplicações da microscopia SWIR são:

  • · Inspeção de waffer de Silício. A microscopia SWIR é muito útil na verificação das características dos materiais.
  • · Inspeção de células solares graças ao fenómeno da eletroluminescência que se produz nestas quando existe circulação de cargas. Os fotões emitidos ajudam a visualizar fraturas e a distribuição de cargas que determinam a qualidade do material. As câmaras SWIR melhoram em uma ordem de magnitude a captura do fluxo de fotões com respeito aos sensores CCD de silício convencionais.
  • · Emissão de fotões. Este tipo de microscópio ajuda na deteção de emissões débeis devidas a anomalias nos semicondutores. Proporcionam uma elevada capacidade de deteção em circuitos integrados.
  • · Circuitos integrados fotónicos. As redes de comunicações de fibra ótica utilizam lasers SWIR entre 1300 e 1500nm, o que resultam são as câmaras SWIR para visualizar estes sinais. Os microscópios SWIR ajudam na verificação do desenho ótico e na inspeção de desalinhamentos e dispersões da luz nos circuitos integrados.

Os microscópios óticos normalmente utilizam sistemas de lentes refrativas de cristal para examinar as amostras com grande ampliação. A diferença das câmaras de infravermelho MWIR e LWIR, as câmaras SWIR podem operar com óticas de cristal standard e não requerem o uso de óticas refletivas. Em consequência, as câmaras SWIR podem ser utilizadas com a maioria de microscópios existentes. Além do mais as lâmpadas de tungsténio que incorporam constituem em uma boa fonte de fotões SWIR.

Algumas das principais aplicações da microscopia SWIR são:

· Inspeção de waffer de Silício. A microscopia SWIR é muito útil na verificação das características dos materiais.

· Inspeção de células solares graças ao fenómeno da eletroluminescência que se produz nestas quando existe circulação de cargas. Os fotões emitidos ajudam a visualizar fraturas e a distribuição de cargas que determinam a qualidade do material. As câmaras SWIR melhoram em uma ordem de magnitude a captura do fluxo de fotões com respeito aos sensores CCD de silício convencionais.

· Emissão de fotões. Este tipo de microscópio ajuda na deteção de emissões débeis devidas a anomalias nos semicondutores. Proporcionam uma elevada capacidade de deteção em circuitos integrados.

· Circuitos integrados fotónicos. As redes de comunicações de fibra ótica utilizam lasers SWIR entre 1300 e 1500nm, o que resultam são as câmaras SWIR para visualizar estes sinais. Os microscópios SWIR ajudam na verificação do desenho ótico e na inspeção de desalinhamentos e dispersões da luz nos circuitos integrados.